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    作物表型檢測系統 所有儀器
    產品名稱
    型 號
    基本配置
    [簡介]水稻表型檢測系統可測量水稻株高、夾角、莖粗、水稻畝穗數、理論產量、水稻穗粒數、一/二次枝梗數量和長度、各枝梗穗粒數、著粒密度、穗長、總粒數和千粒重等指標,
    TPS-BX-1
    標準配置
    [簡介]小麥表型檢測系統可測量小麥株高、夾角、莖粗、小麥畝穗數、理論產量、穗長、小穗數、總粒數和千粒重等指標
    TPM-BX-1
    標準配置
    [簡介]玉米表型檢測系統可以測量凸包面積、外接矩形面積、長寬比、側視角緊湊度、側視角投影面積、株高、莖稈節間距和莖粗、葉長、葉片彎曲度、莖葉夾角和千粒重等指標。
    TPY-BX-1
    標準配置
    [簡介]大豆表型檢測儀可以測量大豆夾角、莖粗、總粒數和千粒重等指標,這些高通量表型參數為大豆品種篩選、產量預測、基因定位、功能解析等方面發揮著至關重要的作用。
    TPD-BX-1
    標準配置
    [簡介]一種基于圖像識別的“玉米株型分析系統”不僅能夠實現對傳統手工測量的替代,多參數一次性獲取的特征也能顯著提高分析效率,對于現代農業育種、涉農科研和農業生產有著巨大的推動作用。
    TPMT-X-1
    標準配置
    [簡介]水稻整穗考種儀可以測量各枝梗穗粒數、一次枝梗長度和對應穗粒數、二次枝梗長度和對應穗粒數、枝梗著粒密度、穗著粒密度以及平均值、種子粒數、千粒重。
    TPDS-X-1 plus
    標準配置
    [簡介]作物表型數據采集儀用于測量作物表型性狀數據,包含角度測量、長度測量、粗度測量、葉面積測量等功能。
    TPZW-BX-1
    標準配置
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